JTAG (Joint Test Action Group)

JTAG (Joint Test Action Group) является обобщенным названием того, что в последствии было стандартизовано как IEEE 1149.1 (стандарт портов тестирования и архитектура периферийного сканирования).

Сегодня JTAG также широко используется как отладочный порт для микросхем. Практически все современные процессоры поддерживают JTAG (если у них есть достаточно контактов). Разработка встраиваемых систем основывается на отладочных средствах, позволяющих выполнять операции пошагово и использовать точки останова. Цифровые устройства, такие как сотовые телефоны или беспроводные точки доступа, как правило, не имеют никаких других интерфейсов для отладки или тестирования.

Электрические характеристики

Интерфейс JTAG является специализированным четырех/пяти-проводным интерфейсом, интегрирован в чип, и спроектирован таким образом, что несмотря на наличие линий JTAG у каждого тестируемого устройства отладчик нужно подключать только к одному порту JTAG, при этом будет доступ ко всем чипам на плате. Вот контакты разъема JTAG:

1. TDI (Test Data In) — вход данных.
2. TDO (Test Data Out) — выход данных.
3. TCK (Test Clock) — тактовый сигнал порта тестирования.
4. TMS (Test Mode Select) — выбор режима тестирования.
5. TRST (Test Reset) — сброс. Использование этой линии не обязательно.

На рисунке 1 показано подключение устройств к порту JTAG.

Рисунок 1. Подключение устройств к порту JTAG

Разъемы JTAG

Для физического разъема порта JTAG нет официального стандарта. Демонстрационные платы обычно имеют разъем для подключения конкретных инструментов разработки, а в некоторых случаях они включают в себя несколько таких разъемов. Производственные платы могут не содержать разъемов для JTAG вовсе, или при высокой плотности монтажа могут содержать лишь контрольные точки для подключения через JTAG.

Фирма ATMEL использует в своих изделиях двухрядные разъемы, имеющие 10 контактов с шагом 2,54 мм. В таблице 1 приведено назначение всех выводов интерфейса JTAG, стандартного для фирмы ATMEL.